基于SiC MOSFET的固态断路器栅极失效及老化特性研究

doi:10.13234/j.issn.2095-2805.2025.4.316

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电源学报 ›› 2025, Vol. 23 ›› Issue (4) : 316-321. DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2025.4.316

功率半导体器件

基于SiC MOSFET的固态断路器栅极失效及老化特性研究

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Research on Gate Failure and Aging Characteristics of Solid-state Circuit Breaker Based on SiC MOSFET

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Received	Revised	Accepted	Published
2023-04-12	2023-05-24	2023-07-17	2025-07-30
Issue Date
2025-09-11

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