基于桥式电路的氮化镓开关损耗测试

doi:10.13234/j.issn.2095-2805.2020.4.24

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电源学报 ›› 2020, Vol. 18 ›› Issue (4) : 24-27. DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2020.4.24

SiC、GaN器件、新型功率器件及其应用

基于桥式电路的氮化镓开关损耗测试

{{article.zuoZhe_CN}}

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Test of Gallium Nitride Switching Loss Based on Bridge Circuit

{{article.zuoZhe_EN}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}. 2020, 18(4): 24-27 https://doi.org/10.13234/j.issn.2095-2805.2020.4.24

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}. 2020, 18(4): 24-27 https://doi.org/10.13234/j.issn.2095-2805.2020.4.24

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{{custom_sec.title}}

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{{custom_fnGroup.title_cn}}

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2020-07-30
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