寄生电感在IGBT开关损耗测量中的影响

doi:10.13234/j.issn.2095-2805.2009.4.344

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电源学报 ›› 2009, Vol. 7 ›› Issue (4) : 344-349. DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2009.4.344

寄生电感在IGBT开关损耗测量中的影响

{{article.zuoZhe_CN}}

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Effects of Parasitic Inductance over IGBT Switching Loss Measurement

{{article.zuoZhe_EN}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}. 2009, 7(4): 344-349 https://doi.org/10.13234/j.issn.2095-2805.2009.4.344

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}. 2009, 7(4): 344-349 https://doi.org/10.13234/j.issn.2095-2805.2009.4.344

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{{custom_sec.title}}

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{{custom_fnGroup.title_cn}}

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{{custom_ack.title_cn}}

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2009-07-30
Issue Date
2009-07-30